透射電(diàn)鏡（TEM）

透射電(diàn)子顯微鏡(Transmission Electron Microscope，簡稱TEM)，可(kě)以看到在光學(xué)顯微鏡下無法看清的小(xiǎo)于0.2um的細微結構，這些結構稱為(wèi)亞顯微結構或超微結構。

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實驗介紹

　　電(diàn)子圖片，如需分(fēn)析提前溝通。

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